Término solicitado: PARRISH, WILLIAM^RED./(22)
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| Tipo de Docum.: | tablas |
| Título: | Data for X-ray analysis: charts for solution of Bragg's equation |
| Autor: | Parrish, William; Mack, Marian |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | 2.ed.. Eindhoven. NL. Philips. 1963. |
| Pág./Vol.: | 3v. |
| Notas: | Vol.1: en préstamo permanente en INTI-Química. |
| Descriptores: | Rayos X; Difracción de rayos X; Metales; Cobre; Cobalto; Molibdeno; Tungsteno; Cromo; Hierro |
| Ubicación: | 543.422/P261/2.ed.; CEQUIPE/147/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | Préstamo |
| Tipo de Docum.: | libro |
| Título: | X-ray analysis papers: a volume of twenty-four selected reprints from Philips Laboratories |
| Autor: | Parrish, William. ed. |
| Idioma: | eng |
| Datos de Edición: | Eindhoven. NL. Centrex Publishing Company. 1965. |
| Pág./Vol.: | 310p. |
| Notas: | Ejemplar único en préstamo permanente en INTI-Química. |
| Descriptores: | Rayos X; Análisis; Polvo; Difracción de rayos X; Filtros; Cristales; Longitud de onda; Difractometría; Espectros; Tubos; Geometría; Calibración; Minerales; Estructura cristalina; Estadística; Intensidad; Detección; Precisión; Mediciones; Espectroscopía de rayos X; Análisis espectroquímico; Fluorescencia; Filtración; Excitación; Cristalografía; Espectrómetros; Contadores; Absorción; Radioactividad; Silicio |
| Ubicación: | 543.422/P261x/2.ed.; CEQUIPE/163/Metales y A.Inorgánico |
| Disponibilidad: | Préstamo |
Fin
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